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PT美國賽默飛FEI掃描電鏡常用哪些行業？

點擊次數：5756 發布時間：2023/11/1 13:07:48

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賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631 拔出

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制

4035 272 35971 拔出

1058129 拔出

1301684 Suppressor 抑制

1096659 Aperture 光闌

1346158 PT

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統，可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能。Scios 2 DualBeam 通過創新的功能設計提高了通量、精度以及易用性，是滿足科學家和工程師在學術、政府以及工業研究域高研究和分析需求的理想解決方案。

高質量亞表面和 3D 信息

通常需要進行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結構和性質。Scios 2 DualBeam 及可選配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件可提供高質量、全自動的多模式 3D 數據集采集，包括用于大材料對比度的背散射電子 (BSE) 成像、用于組成信息的能量色散光譜 (EDS) 以及用于微觀結構和晶體學信息的電子背散射衍射 (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟件組合使用后，Scios 2 DualBeam 可為納米的高分辨率、高 3D 表征以及分析提供獨特的工作流程解決方案。

以超高分辨率提供完整的樣品信息

創新的 NICol 電子色譜柱為系統的高分辨率成像和檢測能力提供了基礎。它適用于多種工作條件，無論是在 30 keV 的 STEM 模式下（訪問結構信息）還是以較低能量（獲得無電荷的詳細表面信息）運行，都可以提供出色的納米細節。Scios 2 DualBeam 具有獨特的鏡筒內 Thermo Scientific Trinity 檢測系統，用于同時采集角和能量選擇二電子 (SE) 以及 BSE 成像數據。不僅可以快速訪問從上到下的詳細納米信息，還可快速訪問傾斜的樣品或交叉切片的信息。可選配的透鏡下檢測器和電子束減速模式可以快速、便捷地同時采集所有信號，揭示材料表面或交叉切片中小的特征。借助獨特的、具有全自動對齊功能的 NICol 色譜柱，可獲得快速、準確、可重現的結果。

快速、便捷地制備高質量 TEM 樣品

科學家和工程師不斷面臨新的挑戰、需要對越來越復雜的樣品的更小特征進行高度局部表征。Scios 2 DualBeam 的新技術創新與可選、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 軟件以及賽默飛世爾科技的應用業知識相結合后，可支持客戶快速方便地制備用于多種材料的自定義高分辨率 S/TEM 樣品。為了獲得高質量結果，需要使用低能量離子進行終拋光，以盡可能減少對樣品表面的損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具有高分辨率成像和銑削能力，還具有良好的低電壓性能，能夠創建高質量的 TEM 薄片。

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主要特點